[Forside] [Hovedområder] [Perioder] [Udannelser] [Alle kurser på en side]
Målet med dette kursus er at introducere de studerende til statistisk modellering og inferens for billeder. Vægten er på hvordan statistiske modeller kan anvendes til at forbedre kvaliteten af den information som kan udtrækkes fra støjfyldte billeder.
De vigtigste emner, der behandles i kurset, er billedmodeller baseret på punktprocesser og stokastiske felter. Eksempler på hvordan disse modeller kan anvendes i analysen af billeder fra moderne scannere vil blive givet. Specielt vil analysen af billeder indsamlet ved funktionel magnetisk resonans og diffusion tensor imaging blive diskuteret.
Introduktion til Matematisk Modellering, Matematisk Modellering 1 (2007) og 2, Statistiske Modeller 1 og 2.
Eva B. Vedel Jensen.
3-4 timers forelæsning per uge.
.
Noter og artikler.
Institut for Matematiske Fag.
Informationskontoret, Institut for Matematiske Fag.
Ved kursets afslutning forventes den studerende inden for kursets emneområde at kunne:
* udføre basale sandsynlighedsberegninger for simple billedmodeller,
* simulere realisationer af simple billedmodeller,
* gengive de vigtigste definitioner og forklare deres fortolkning i forhold til anvendelser,
* anvende kursets basale teknikker, resultater og begreber på konkrete eksempler og øvelser.
En større skriftlig opgaver, der bedømmes efter 7-trinsskalaen med intern censur.
