AU kursuskatalog arkiv

Karakteriseringsmetoder (Q3) ( forår 2010 - 5 ECTS )

Rammer for udbud

• Uddannelsessprog: engelsk (eller dansk)
• Niveau: Bachelorkursus Kurset er også en del af Teknisk fysik fagpakken
• Semester/kvarter: 3. kvarter
• Timer per uge: 7
• Deltagerbegrænsning: Ingen
• Undervisningssted: Århus
• Hovedområde: Det Naturvidenskabelige Fakultet
• Udbud ID: 14794

Formål

I kurset introduceres den studerende for de grundlæggende principper og anvendelsesmuligheder af en række vigtige moderne eksperimentelle analyse- og karakteriseringsteknikker anvendt i eksperimentel fysik.

Obligatorisk program

Aktiv deltagelse i hele kurset og gennemførelse af øvelser.

Indhold

I løbet af kurset vil de studerende blive introduceret til en række grundlæggende teknikker til karakterisering af materialer og overflader.

Kurset vil bestå af 5-6 temaer:

• Skanning Probe teknikker (SPM), som fx. Atomic Force Microscopy, Scanning Tunneling Microscopy og anvendelser heraf
• Overfladefølsomme vakuumbaseret teknikker, som fx photo-electron spectroskopi (XPS, UPS) og elektron-spektroskopi (Auger) og Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS).
• Materiale-karakterisering med Röntgen/Neutron diffraktion, Transmissions Elektron Mikroskopi og Scanning Elektron Mikroskopi
• Optisk afbildning og spektroskopi teknikker som fx konfokal mikroskopi, IR- og Raman spektroskopi;
• Ion-sprednings teknikker

Hvert tema vil bestå af 4-6 timers forelæsning og teoretiske øvelsestimer à 2 timers varighed. Desuden skal der i kursets forløb udarbejdes i grupper et litteraturprojekt og gennemføres en større eksperimentel øvelse med fokus på en af de behandlede teknikker. Litteraturprojektet vil fokusere på videnskabelige artikler og skal fremlægges i form af en poster.

Et af formålene i kurset vil være at den studerende skal være i stand til at udvælge den bedste kombination af flere teknikker til at studere ét specifikt eksperimentelt system.

En del af forelæsningerne og teoriøvelserne i kurset afholdes sammen med kurset nanokarakterisering der udbydes på nanoteknologi studiet.

Læringsmål

Når kurset er færdigt forventes den studerende at kunne

• Beskrive en række analytiske metoder relevante for nanoteknologi
• Anvende teorierne bag teknikker til at forstå eksperimentelle teknikker
• Analysere videnskabelige artikler ved at anvende de analytiske teknikker, der er blevet behandlet i løbet af kurset og forholde sig kritisk til deres anvendelse
• Præsentere videnskabelige resultater i form af en poster.
• Gøre rede for de informationer som forfattere af videnskabelige artikler tilegner sig ved at anvende de analytiske teknikker, der behandles i løbet af kurset.

Faglige forudsætninger

De obligatoriske kurser på Fysikstudiets to første år samt det introducerende kurser i faststoffysik på fysikstudiets tredje år.

Underviser

Kursuskoordinator (fysik): Jeppe Vang Lauritsen ( jvang@inano.dk ) Forelæsninger og øvelser varetages af et team på ca. 5 personer fra fysik, kemi og nanoteknologi

Undervisnings- og arbejdsform

4 timers forelæsninger og 2 timers øvelser og metode-demonstrationer pr. uge (temaer) samt 1 ekstra ugentlig time til opfølgning på projekt-arbejde/eksperimentel øvelse. Kurset involverer desuden et projekt-arbejde og eksperimentel øvelse med varierende belastning fordelt på kursets forløb.

Materialer : Engelsk
Forelæsninger : Engelsk/Dansk

Litteratur

Diverse notemateriale

Kursushjemmeside

http://www.aula.au.dk/

Eksamensterminer

Eksamen: 3. kvarter
Reeksamen: Efter aftale med faglærer

Udbyder

Institut for Fysik og Astronomi

Indgår i følgende studieordninger

Bacheloruddannelsen i Fysik

Tilmelding til undervisning

Tilmelding via selvbetjeningen https://mit.au.dk/da/index.cfm

Studieordning og bedømmelse

Retning: Teknisk fysik

• Hj.opg., bedømt efter 7-skala med intern censur

Tilvalgsfag: Fysik og astronomi

• Hj.opg., bedømt efter 7-skala med intern censur

For at bestå kurset skal de studerende deltage aktivt og præsentere deres projektarbejde. Ved kursets slutning udleveres en hjemmeeksamen på engelsk med udgangspunkt i udleverede artikler. Max. 6 sider. Bedømmelse efter 7-trins skalaen (intern censor).