[Forside] [Hovedområder] [Perioder] [Udannelser] [Alle kurser på en side]
Kurset har til hensigt at bibringe nanostuderende indsigt i forskellige fysiske karakteriseringsmetoder og deres anvendelse i nanoscience og nanoteknologi.
Aktiv deltagelse, herunder præsentation af projektarbejde.
I løbet af kurset vil de studerende blive introduceret til en række grundlæggende teknikker til karakterisering af systemer på nanoskala. Kurset vil bestå af 5 temaer, som vil fokusere på i) skanning probe teknikker, som fx AFM, STM; ii) overfladefølsomme vakuumbaseret teknikker, som fx UPS/APS/AUGER; iii) overfladefølsomme væskebaseret teknikker, som fx QCM-D/SPR, iv) optisk afbildning og spektroskopi teknikker som fx konfokal mikroskopi, FTIR; og v) teknikker til karakterisering af strukturelle strukturer, som fx XRD, TEM.
Hvert tema vil bestå af 4 forelæsninger og teoretiske øvelsestimer à 2 timers varighed. Desuden skal der udarbejdes et litteraturprojekt i grupper. Projektet vil fokusere på videnskabelige artikler og skal fremlægges i form af en poster. Et af de centrale koncepter i kurset vil være kombinationen af flere teknikker til at studere et eksperimentelt system.
Ved kursets slutning forventes det, at de studerende kan:
Kemi og fysik svarende til de to første år på nanosciencestudiet.
Ansvarshavende underviser:
Duncan Sutherland
Interdisciplinært Nanoscience Center (iNANO), Ny Munkegade, bygning. 1521
Telefonnummer: 8942 5547
E-mail:
duncan@inano.au.dk
Andre undervisere: Jeppe Vang Lauritsen, Henrik Birkedal, Victoria Birkedal,
Peter Kingshott
6x4 forelæsninger, 6x2 øvelser og metodedemonstrationer, 1x6 rapportskrivning. Projektarbejde.
Materiale: Engelsk
Undervisningssprog: Engelsk
Noter udleveret i løbet af kurset.
Se Læseplanen.
3. kvarter
Reeksamen: August
Interdisciplinært Nanoscience Center (iNANO)
Ingen.
Via selvbetjening
Intet at tilføje.
Ved kursets slutning udleveres en hjemmeopgave på engelsk med udgangspunkt i udleverede artikler. Max. 6 sider.
Bedømmelse efter 7 trin skalaen (intern censur).